XRF能量色散X射線熒光分析儀
德國菲希爾 XRF能量色散X射線熒光分析儀
我們有您需要的:在X射線熒光分析(XRF分析)領(lǐng)域擁有多年的綜合專業(yè)知識(shí)!您將獲得最佳解決方案,尤其是針對(duì)您的測(cè)量任務(wù)–我們承諾!
XRF能量色散X射線熒光分析儀 快速、簡(jiǎn)單、無損-這是采用Fischer XRF測(cè)量技術(shù)的XRF分析代表的意義!X射線束使測(cè)量樣品中的原子電離。探測(cè)器檢測(cè)發(fā)生的熒光輻射,內(nèi)部開發(fā)的軟件處理信號(hào)。
必須注意細(xì)節(jié):衡量成功與否與每個(gè)組成部分都息息相關(guān)!
X射線管和陽極材料:
小零件,有大影響!XRF設(shè)備的“心臟",即X射線發(fā)生器,由一個(gè)帶有鎢、銠、鉬或鉻陽極的標(biāo)準(zhǔn)或微聚焦射線管組成。這些部件決定了達(dá)到哪種測(cè)量精度和哪種能譜。
濾波器:
只有必要的東西才能通過:X射線束通過濾波器,以降低相關(guān)能量范圍內(nèi)的背景噪聲,從而對(duì)來自僅以低濃度存在的材料的信號(hào)實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度。
孔徑和X射線光學(xué)元件:
菲舍爾的聚焦!作為全球僅有的兩家多毛細(xì)管光學(xué)器件的制造商之一,我們能夠?qū)⒋蟛糠殖跫?jí)輻射集中在一個(gè)微小的測(cè)量點(diǎn)上。
探測(cè)器:
只有在Fischer,您可以選擇3種不同的探測(cè)器類型,以實(shí)現(xiàn)測(cè)量任務(wù)的最佳解決方案:比例計(jì)數(shù)管、硅PIN二極管和硅漂移探測(cè)器。
X射線熒光分析的基礎(chǔ)和最重要的儀器性能在過去,
X射線熒光分析(XRF)主要用于地質(zhì)學(xué)。如今,它已成為工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的關(guān)鍵技術(shù)。這種方法非常通用:它可以檢測(cè)從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素
XRF通常用于材料分析,即確定樣品中給定物質(zhì)的含量,如測(cè)量珠寶中的黃金含量或根據(jù)《有害物質(zhì)限制》(RoHS)指令檢測(cè)日常物品中的有害物質(zhì)。此外,可以使用XRF測(cè)量鍍層的厚度:它快速、環(huán)保且無損。這就是測(cè)量是如何進(jìn)行的當(dāng)X射線設(shè)備開始測(cè)量時(shí),X射線管會(huì)發(fā)出高能輻射,這也被稱為‘初級(jí)’輻射。當(dāng)這些X射線擊中樣品中的一個(gè)原子時(shí),它們會(huì)增加能量–即它們“激發(fā)"原子 - 使原子向其原子核附近發(fā)射電子,這個(gè)過程被稱為“電離"。由于這種狀態(tài)是不穩(wěn)定的,一個(gè)來自更高電子層的電子移動(dòng)來填充空隙,從而發(fā)射出“熒光"輻射。
這種二次輻射的能量水平類似指紋一樣:它是每個(gè)元素的特征。探測(cè)器接收熒光并將信號(hào)數(shù)字化。在信號(hào)經(jīng)過處理后,設(shè)備產(chǎn)生一個(gè)光譜:檢測(cè)到的光子的能級(jí)在x軸上繪制,其頻率(計(jì)數(shù)率)在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置(x軸方向)來識(shí)別。這些峰的水平(y軸方向)提供了有關(guān)元素濃度的信息。